15 mm AOI wykrywa źródła światła

W odpowiedzi na wyzwania związane z detekcją defektów na silnie odblaskowych/przezroczystych powierzchniach, opracowano unikatowe źródło światła liniowego o ciągłej, wielokątowej strukturze optycznej. To rozwiązanie, zastępując tradycyjny tryb stroboskopowy z podziałem czasu, umożliwia szybką detekcję wielu defektów na powierzchni złożonych obiektów na jednym obrazie, znacznie zwiększając wydajność detekcji i redukując obciążenie obliczeniowe. Zapewnia ono szybkie i niezawodne rozwiązanie przemysłowe do detekcji front-end płytek PCB/FPCB (rozdzielczość defektów ≤50 μm). Ta seria produktów wykorzystuje unikalną konstrukcję optyczną, która skupia światło do 160 stopni na powierzchni fotografowania podczas kontroli jakości obwodów front-end płytek FPCB, co jest szczególnie trudne do wykrycia, takie jak mikrozwarcia, kapsułki i dolna miedź. Zapewnia to bogactwo i jednorodność kąta padania na obszar defektu, ułatwiając kamerze uchwycenie informacji o cechach defektu.