15mm AOI는 광원을 감지합니다.

반사율이 높거나 투명한 표면의 결함 검출에 있어 기존의 어려움을 해결하기 위해, 연속 다각도 입사 반사형 광학 구조 라인 광원을 독자적으로 설계했습니다. 이 솔루션은 기존의 시분할 스트로보스코프 방식을 대체하여, 복잡한 표면의 여러 결함을 단일 이미지에서 신속하게 검출할 수 있어 검출 효율을 크게 향상시키고 연산 부하를 줄입니다. PCB/FPCB(결함 해상도 ≤50μm)의 프런트엔드 검출을 위한 고속의 안정적인 산업용 솔루션을 제공합니다. 본 제품 시리즈는 FPCB 보드 프런트엔드 회로의 품질 검사 시, 미세 단락, 캡슐화, 하부 동선 등 검출이 특히 어려운 결함을 검출할 수 있도록 최대 160도에 달하는 광각을 촬영면에 집중시키는 독창적인 광학 설계를 채택했습니다. 이를 통해 결함 영역에 풍부하고 균일한 입사각을 제공하여 카메라가 결함 특징 정보를 쉽게 포착할 수 있도록 합니다.