15毫米AOI可偵測光源

針對高反射/透明表面缺陷偵測的挑戰，我們獨家設計了一個連續多角度入射反射光學結構線光源。此方案取代了傳統的時分頻頻閃模式，可在單張影像上快速偵測複雜物體表面的多個缺陷，顯著提高偵測效率並降低計算壓力。它為PCB/FPCB前端缺陷檢測（缺陷解析度≤50μm）提供了高速可靠的工業解決方案。此系列產品採用獨特的光學設計，可將高達160°的光束會聚到FPCB板前端電路的拍攝表面上，用於檢測那些難以檢測的缺陷，例如微短路、封裝和底部銅箔等。這確保了缺陷區域入射角度的豐富性和均勻性，使相機能夠輕鬆捕捉缺陷特徵資訊。