15 mm AOI erkennt Lichtquellen

Als Antwort auf die Herausforderungen bei der Fehlererkennung auf hochreflektierenden/transparenten Oberflächen wurde eine kontinuierliche, mehrwinkelige, reflektierende optische Linienlichtquelle entwickelt. Diese Lösung ersetzt den herkömmlichen stroboskopischen Zeitmultiplex-Modus und ermöglicht die schnelle Erkennung mehrerer Defekte auf der Oberfläche komplexer Objekte in einem einzigen Bild. Dadurch werden die Erkennungseffizienz deutlich gesteigert und der Rechenaufwand reduziert. Sie bietet eine schnelle und zuverlässige industrielle Lösung für die Frontend-Fehlerprüfung von Leiterplatten (PCB/FPCB) mit einer Fehlerauflösung von ≤ 50 µm. Diese Produktreihe nutzt ein einzigartiges optisches Design, um das Licht bei der Qualitätsprüfung der Frontend-Schaltung von FPCB-Platinen in einem Winkel von bis zu 160 Grad auf die Aufnahmefläche zu bündeln. Dies ermöglicht die Erkennung besonders schwer erkennbarer Defekte wie Mikrokurzschlüsse, Verkapselungen und Fehlstellen auf der Unterseite. Dadurch wird ein gleichmäßiger und differenzierter Einfallswinkel auf den Defektbereich gewährleistet, sodass die Kamera die Defektmerkmale optimal erfassen kann.