15毫米AOI光源

针对高反射/透明表面缺陷检测的挑战，我们独家设计了一种连续多角度入射反射光学结构线光源。该方案取代了传统的时分频频闪模式，可在单张图像上快速检测复杂物体表面的多个缺陷，显著提高检测效率并降低计算压力。它为PCB/FPCB前端缺陷检测（缺陷分辨率≤50μm）提供了一种高速可靠的工业解决方案。该系列产品采用独特的光学设计，可将高达160°的光束会聚到FPCB板前端电路的拍摄表面上，用于检测那些难以检测的缺陷，例如微短路、封装和底部铜箔等。这确保了缺陷区域入射角度的丰富性和均匀性，使相机能够轻松捕捉缺陷特征信息。