15mmのAOIが光源を検出します

高反射/透明表面の欠陥検出における課題に対応するため、連続多角度入射反射光学構造ライン光源が独自に設計されました。このソリューションは、従来のタイムシェアリングストロボモードに代わることで、複雑な物体の表面上の複数の欠陥を単一画像で迅速に検出でき、検出効率を大幅に向上させ、計算負荷を軽減します。PCB/FPCBのフロントエンド検出（欠陥解像度≤50μm）に高速で信頼性の高い産業用ソリューションを提供します。この製品シリーズは、マイクロショート、カプセル化、ボトム銅など、検出が特に困難なFPCB基板のフロントエンド回路の品質検査において、最大160度の光を撮影面に集束させる独自の光学設計を採用しています。これにより、欠陥領域への入射角の豊富さと均一性が確保され、カメラが欠陥の特徴情報を容易に捉えることができます。